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38DL测厚仪

描述:OLYMPUS奥林巴斯38DL测厚仪,双晶探头测量模式,穿透涂层(THRU-COAT)技术和回波到回波功能,可在带有漆层和涂层的表面上测量材料的厚度。使用频率范围为2. 25 MHz〜30 MHz的单晶探头时,高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2023-09-19
  • 访问量:304
产品详情/ PRODUCT DETAIL

标题:38DL测厚仪

产品概述

38DL测厚仪主要特性

■可与双晶探头和单晶探头兼容。

■宽泛的厚度测量范围:0.08毫米?635毫米, 具体可测厚度根据材料和所选探头而定。

■使用双晶探头进行腐蚀测厚操作。

■使用穿透涂层(THRU-COAT)技术和回波到回波功 能,可在带有漆层和涂层的表面上测量材料的厚度

■内部氧化层/沉积物软件选项。

■对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米。

■在使用频率范围为2. 25 MHz?30 MHz的单晶探头 时,高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚 度测量。

■多层软件选项可同时对多层材料的各层进行厚度测量, 多可同时测量4层。

■髙穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具 有高衰减性的材料。

■厚度、声速和渡越时间的测量。

■差分模式和缩减率模式。

■时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可回顾的读数。

■带有数字式滤波器的奥林巴斯高动态増益技术。

■用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。

■设计符合EN15317标准。

 

OLYMPUS奥林巴斯38DL测厚仪技术参数

双晶探头测量模式:从波励脉冲后蹄稿延迟琳一个回波之间的时间间隔。

穿透涂层测量模式:利用单个底面回波,测量金属的实际厚度和涂层厚度(使用D7906-SM和D7908探头)。

穿透漆层回波到回波测量模式:在两个连県底面回波之闾的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。

单晶探头测量模式。

模式1:波励廠冲与个底面回波之间的时间间陽。

模式2:延迟块回波与个底面回波之间的时间间陽(使用延迟块或水浸式探头)。

模式3:在激励豚沖之后,位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时何 间隔(使用延迟琳?头或水浸式探头)。

氧化层模式:可选购。

多层模式:可选购。

厚度范围:0.080毫米 ~ 635.00毫米,具体可测厚度根据材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。

材料声速范国:0.508 mm/μs ~ 13.998 mm/μs。

制率何选择:低分解率:0.1毫米 标准分瓣率:0.01毫米 高分常率(可迭项):0.001臺米。

探头频率范围:标准:2.0 MHz ~ 30 MHz(–3 dB)高穿透(可选项):0.50 MHz ~ 30 MHz(–3 dB)

一般规格:

操作温度范围:–10°C ~ 50°C。

键区:密封、以色彩区分功能的键区,带有触感及声音反馈。

外壳:防撞击、防水、装有密封垫的机売,机売上的接口密封.设计符合IP67标准。

外型尺寸 (宽 × 高 × 厚):总体尺寸:125»米X 211毫米X 46臺米。

重量:0.814公斤。

电源:AC/DC适配器,24 V;锂离子电池,23.760 Wh;或4节AA辅助电池。

钮离子电池供电时间:操作时间:少12.6小时,一般14小时,多14.7小时,快速充电:2到3小时。

标准:设计符合EN15317标准。

爆炸性气氛:通过了 MIL-STD-810G方法511. 5程序I中規定的测试。

显示:

彩色透反VGA显示:液晶显示,显示屏尺寸:56.16毫米 × 74.88毫米。

检波:全波、射频波、正半波、负半波。

输入/输出:

USB:1.0从接口。

RS-232:有。

存储卡容量:2 GB外置microSD存储卡。

视频输出:VGA输出标准。

内置数据记录器:

数据记录器:38DL PLUS测厚仪通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、调用、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置等信息。

容量:475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形。

 

 
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